PRODUCT CLASSIFICATION
產品分類otsuka大塚半導體漿料ZETA電位徑粒測試儀非常適用于界面化學、無機物質、半導體、聚合物、生物學、制藥和醫學領域的基礎研究和應用研究,不僅涉及微小顆粒,還涉及薄膜和平板表面的科學研究。
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otsuka大塚半導體漿料ZETA電位徑粒測試儀
otsuka大塚半導體漿料ZETA電位徑粒測試儀
產品信息
特點
● 可根據用途增加功能(分子量測定、粒子濃度測定、微流變測定、凝膠網眼結構分析、粒徑多角度測定)
● 可以用標準流動池連續測量粒徑和zeta電位
● 可以測量從稀薄到濃厚溶液(~40% )的廣泛濃度范圍的粒徑zeta電位
● 可以在高鹽濃度下測定平板狀樣品的zeta電位
● 可在0~90℃的廣闊溫度范圍內進行測量
● 通過溫度梯度功能,可對蛋白質等的變性及相變溫度進行解析
● 通過樣品池內的實測電氣浸透流圖分析,提供高精度的ZETA電位測量結果
● 可安裝熒光濾光器(選配)
用途
非常適用于界面化學、無機物質、半導體、聚合物、生物學、制藥和醫學領域的基礎研究和應用研究,不僅涉及微小顆粒,還涉及薄膜和平板表面的科學研究。
● 新型功能材料領域
- 燃料電池相關(碳納米管、富勒烯、功能膜、催化劑、納米金屬)
- 納米生物相關(納米膠囊、樹枝狀聚合物、DDS、納米生物粒子)、納米氣泡等。
● 陶瓷/著色材料工業領域
- 陶瓷(二氧化硅/氧化鋁/氧化鈦等)
- 無機溶膠的表面改性/分散/聚集控制
- 顏料的分散/聚集控制(炭黑/有機顏料)
- 漿料狀樣品
- 濾光器
- 浮游選定礦物的捕集材料的收集和研究
● 半導體領域
- 異物附著在硅晶片表面的原理解析
- 研磨劑和添加劑與晶片表面的相互作用的研究
- CMP漿料的相互作用
● 聚合物/化工領域
- 乳液(涂料/粘合劑)的分散/聚集控制,乳膠的表面改性(醫藥/工業)
- 聚電解質(聚苯乙烯磺酸鹽,聚羧酸等)的功能研究
- 功能納米顆粒紙/紙漿造紙過程控制和紙漿添加劑研究
● 制藥/食品工業領域
- 乳液(食品/香料/醫療/化妝品)分散/聚集控制及蛋白質的機能性檢測
- 脂質體/囊泡分散/聚集控制及表面活性劑(膠束)機能性檢測