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日本ERD分立半導體高速容量測量測試儀進口 CMS-200 無汞！超高速容量測量測試儀！！ MODEL CMS-200系列是一種高速、高精度測量分立半導體（FET、二極管等）電容特性的方法。

日本ERD分立式半導體前端DC/C測量測試儀 ATS-3810PRB 無汞！Prober連接型超高速中信號直流測試儀！！ MODEL ATS-3810PRB是一款專門用于分立半導體前端工藝中探測機DC/C測量的測試儀。

日本ERD高速處理介質信號直流測試儀高精度 ATS-3610 無汞！處理器連接4設備獨立超高速介質信號直流測試儀！！ MODEL ATS-3610 可高速、高精度地檢查并確定分立半導體制造過程中的直流特性。

日本進口ERD分立式直流測試儀無汞高性能 ATS-3201 無汞！小信號直流測試儀！！ MODEL ATS-3201是最新款分立式直流測試儀，具有體積小、重量輕、高速、高性能、性價比高等特點。

英國IDB Systems接地傳導電壓測試儀監測器 ID-471A / ID-471B ID-471A 接地傳導監測器是篩查人員和確定其導電鞋的有效性所必需的設備。 測試器可提供多種配置，臨界電阻設置為 1000MΩ (109) 或 100MΩ (108)。 ID-471B 接地傳導測試儀為 ID-471A 提供了附加功能，包括模擬儀表和 5MΩ 下限故障點測試。

日本NPC手動型電阻率測試裝置用于多種材料 sigma-5+ 它可以精確測量硅片等的電阻率，還有用于太陽能電池的硅的便攜式探頭。 這是一款高精度電阻率測量儀器，采用20多年電阻率測量相關的專業知識和技術設計和開發。 可以在半導體基板和導電薄膜基板的研發/檢查過程或生產線中高精度地確定和評估薄層電阻值和體積電阻值。

日本NPC手持式非接觸式面電阻測試儀高精度 sigma-5+ 探頭接觸樣品即自動開始測量 可通過JOG旋鈕快速設定測量條件 5種測量范圍探頭可根據樣品電阻率進行更換 可選配P/N型判定量測功能 應用：硅片樣品， 化合物半導體， 外延層， 擴散層， 碳化硅， 薄膜材料， 金屬膜， ITO, IZO, Low-E玻璃, LED/OLED等材料

日本NPC電阻率測試儀測量儀器高精度多功能 sigma-5+ 這是一款手動型測量儀器，采用四探針法，可輕松準確地測量太陽能電池用硅片、液晶基板、金屬薄膜等的方塊電阻或體積電阻。它支持從低電阻到高電阻的各種測量。 1) 用于硅錠制造→晶圓制造工序（成膜等各工序）的產品檢查　 2) 液晶面板（LCD基板）制造：成膜時的產品檢查 3) 用于各種導電材料制造過程中的產品檢驗